| 新旧程度：8成新 | 类型：分析仪器 | 货号：KIF-202L |
| 品牌：奥林巴斯 | 型号：60mm | 设备所在地：广东 |
| 设备生产产地：日本 | 产品数量：1 |
KIF-202L 小型激光干涉仪
使用在生产制造显微镜·光学拾波等过程中培育的小口径测量技术，开发而来的使用简单小型干涉仪。 在光电通信、摄影设备、情报机器等的光学素子领域，可进行高精度测量。 同时在为***质量而进行的测量活动以及制造现场内的工位内检测方面发挥着巨大的威力。 充分考虑作业现场内的使用环境，占地空间小，方便操作。 可测量倍率（1×、2.5×) 测定倍率扩大到2.5×，可简单测量小件物体。 与Φ60-Φ15（可选件）的孔径转换器组合匹配使用的话，可扩大10倍。 （平面测定时）参照镜片λ/20 高精度 因为本社加工技术，参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要，也可提供λ/30 的产品。 丰富的附属备件群 我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置（KIF-FSPC/FS2000)，可进行高精度条纹解析。
主要用途：· 镜片研磨面的面精度的测定。· 塑料成型件的面精度的测定。· 各种金属切削面的面精度的测定。 规格：测定方法斐佐型干涉方式口径Φ60（使用可选件为Φ6-Φ102）mm被检物大小Φ6-Φ102（平面测定时）mm倍率1×、2.5×（本体2 段切换） 4×、10×（使用Φ60-Φ15的孔径转换器时）参照面精度λ/20（球面以及平面）光源He-Ne（632.8nm）激光电源AC100V 50/60Hz本体外形尺寸220（W）×360（D）×740（H）mm本体重量约33kg标准附属品9型TV显示器、5轴调整受台*特殊定单，我社可对应15Omm冲程延长样式。各参照镜可测量范围（表示KIF-202L标准规格样式时的可测定范围）图表的使用方法 根据被检物的曲率、凹凸形状、口径在坐标上选定一点，在包含此点的区域里选择一个参照条纹。如果包含该点的参照镜头有若干个时，请选择F值较大的，这 样便可能将较大的干涉条纹显示在显示器上。 |
