| 新旧程度：8成新 | 类型：分析仪器 | 品牌：日立 |
| 型号：U-4100 | 设备所在地：广东东莞 | 设备生产产地：日本 |
| 产品数量：1 |
日立紫外可见分光光度计U-4100简单介绍
日立U-4100型紫外可见分光光度计是高端产品，可实现足以令“***日立光度计品牌”自豪的精度。该谄范杂谠谑导使烫逖芳觳夥矫嫘枰咧柿渴莸挠没В绨氲继蹇ⅰ⒐庋а泛托虏牧狭煊虻挠没Ф裕亲罴训难≡瘛Ⅻbr />
日立紫外可见分光光度计U-4100详细介绍
日立U-4100型紫外可见分光光度计是高端产品，可实现足以令“***日立光度计品牌”自豪的精度。该产品对于在实际固体样品检测方面需要高质量数据的用户，例如半导体开发、光学样品和新材料领域的用户而言都是不错的选择。
该系统的阵容可满足各种波长和各种尺寸待测样品的检测需求，并可通过结合各种特殊的附件来满足不同的分析需要，例如用于检测透过率和反射率的组件，以及可以极低的噪音水平在紫外区检测的积分球。
日立紫外可见分光光度计U-4100仪器特点
U-4100型紫外可见分光光度计在检测固定样品方面性能十分出色，可***地检测极化属性。此图显示的是一束YAG激光在入射角为45°时所检测的反射率，体现了以微加工机为镜面产生的S-偏光和P-偏光光线的反射特性。两种偏光的反射率在1064nm时均接近100％。
在光学元件的制造中，获得***的偏光特性指标十分重要。
日立紫外可见分光光度计U-4100技术参数
项目 | U-4100 |
波长范围 | 175 至 2,600nm |
分光器 | 棱镜-光栅或光栅-光栅型双分光器 |
检测器 | 光电倍增管（UV-VIS）：冷却型PbS（NIR） |
样品仓 | 样品仓在机身顶部，与台面同高，可容纳内超大型样品：仓内尺寸为 |
尺寸（分光光度计主机） | 730（W）x 800（D）x 880（H）mm（用于大型样品的材料室） |
重量 | 120kg |
电源消耗 | 100, 115, 220, 230, 240V 交流 50/60Hz 500VA |
积分球分光光度计产品专家
适合半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究，是功能劲的分光光度系统。
● 高性能的固体，液体，浑浊样品测试系统。
● 透射，镜面反射和漫反射都可测试。
● 使用超大样品舱，样品可至430 x 430mm，大型样品测试也无需破坏。
● 紫外区测至175nm。
有四种系统可选：
1) U4100固体样品测量系统(240-2600nm)
2) U4100大样品测量系统(240-2600nm)
3) U4100紫外区高灵敏度测量系统(175-2600nm)
4) U4100液体样品测量系统(185-3300nm)
U4100固体样品测试系统
积分球标准配置适合于固体样品的全透射、正透射、漫透射、全反射、漫反射以及角度依赖的透射。不同的测试目的可能要选用不同的测试附件，丰富的附件可使系统更满足您的工作需求。也适用于液体样品的测试。
U4100大样品测量系统 (240-2600nm)
积分球标准配置适合于固体样品的全透射、正透射、漫透射、全反射、漫反射以及角度依赖的透射。拥有超大样品仓，对于大型样品的透射/反射测量非常方便，比如玻璃板材，单晶硅片，液晶板，激光晶体，透镜组等超大，超长样品都可进行无破坏检测。也适用于液体样品的测试。可扩展附件用于角度依赖漫透射角度依赖漫反射测量。
U4100紫外区高灵敏度测量系统
此系统采用的光源、单色器和检测器都是经过特别设计和选择，适合应用于紫外区的光谱研究，特别是175-190nm这个区域有很好的光学性能。可测试那些应用在紫外光谱区的光学部件样品。
U4100通用型测试系统
采用光束直接入射检测器方式，扩宽了测定的波长范围。装配标准10mm直角液体池，用于液体样品的透过率和吸光度的测定。也可选配积分球附件用于固体样品测试。
